CIT－3000SMP 便携式X 荧光分析仪产品配置：

采用进口的美国航天技术的Si（PIN）半导体探测器系列
采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
采用进口的X 光管
采用进口的专用的X 光管高压电源
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块V2.0A
配备专业的RoHS 测试模式
配备USB2.0 蓝牙适配器
配备专用的制样机
配备专用的测试薄膜、测试样杯
配备专用的测试标样一套?

技术指标：

· 分析元素范围：S-U；
· 元素含量分析范围：0.0001%-99.99%（采用1024 道多道分析器）；
· 采用美国航天技术Si (PIN)半导体探测器计数，能量分辨率极高，配合专利的数字脉冲处理技术，
分辨率可优于139eV；

测量范围：2－30KeV；
· 测量下限：Cd：15ppm；Pb、Hg：10ppm；Br：10ppm；Cr：30ppm；(以塑胶标样为例）；
· 精确的RoHS 测试模式；
· 测量物质状态：固体、粉末、液体均可检测，制样简单；
· 校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
· 重复性：<0.1%；
· 稳定性：< 0.01%；
· 高压：5kV-40kV（激发源为进口40KV-钨靶微型X 射线管）；
· 管流：5μA-200μA；
· 整机能量分辨率：150±5eV；
· 检测时间：120S～240S；
· 整机功耗：4W；
· 仪器重量：3Kg；
· 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；全中文应用软件，操作简单，测量时间短；同时配
备PC 机，分析仪通过无线蓝牙技术可单独和PC 进行通信测试，方便携带和使用；

· 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE 有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和化合物痕量检测
及钢铁、铝业、水泥、有色金属、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测。